发明名称 记忆体及诱发热载子注入与非门串列的选取记忆胞的方法
摘要 本发明是有关于一种记忆体及诱发热载子注入与非门串列的选取记忆胞的方法。该记忆体,包含多个记忆胞串联安排于一半导体主体中,例如与非门串列中,具有多条字元线。一所选取记忆胞藉由热载子注入进行编程。此编程操作是基于控制介于此与非门串列中所选取记忆胞的第一侧的一第一半导体主体区域与该与非门串列的该选取记忆胞的第二侧的一第二半导体主体区域的载子流动。施加高于热载子注入能障的编程电位至所选取记忆胞,且之后通过所选取记忆胞的漏极至源极电压及所选取记忆胞中的载子流动到达足以支持热载子注入的阶级,其是由与该选取记忆胞邻接的切换记忆胞及施加至此与非门串列源极端电压的调控的组合来控制。
申请公布号 CN103137202A 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201110399181.6 申请日期 2011.11.24
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 黄竣祥
分类号 G11C16/10(2006.01)I;G11C16/08(2006.01)I 主分类号 G11C16/10(2006.01)I
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人 寿宁;张华辉
主权项 一种记忆体,其特征在于其包含:多个记忆胞串联安排于一半导体主体中;多条字元线,该多条字元线中的字元线与对应的该多个记忆胞中的记忆胞耦接;以及控制电路与该多条位元线耦接,以适合利用下列步骤对一所选取字元线对应的该多个记忆胞中的一选取记忆胞进行编程:在一编程区间时偏压该多个记忆胞的第一及第二侧之一至一漏极端电压,且偏压该第一及第二侧的另一个至一源极端电压以控制该编程区间时的电导;在该编程区间时施加漏极端导通电压至介于该所选取字元线与该第一及第二侧之一之间的字元线;在于该编程区间时施加源极端导通电压至介于该所选取字元线与该第一及第二侧的另一个之间的字元线;在该编程区间时施加一编程电压至该所选取字元线;以及在该编程区间时施加一切换电压至与该所选取字元线对应的选取记忆胞及与该所选取字元线邻接的的选取的记忆胞。
地址 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号