发明名称 | 一种NVM内建自测电路的仿真测试系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种NVM内建自测电路的仿真测试系统,包括有测试主机;多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块。所述自动检测模块具体包括接口信号检测模块、系统状态检测模块、指令执行时序检测模块、测试完整性检测模块、数据输出模块以及测试向量输出模块。通过本发明的仿真测试系统,可以大大减少对NVM内建自测电路进行检测的工作量,并保证了测试的完整性。 | ||
申请公布号 | CN103137211A | 申请公布日期 | 2013.06.05 |
申请号 | CN201110388391.5 | 申请日期 | 2011.11.29 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 雷冬梅;赵锋;张爱东 |
分类号 | G11C29/12(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 一种NVM内建自测电路的仿真测试系统,其特征是,包括有测试主机;多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块;所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接;所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接;所述自动检测模块具体包括:对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块;对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块;对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块;对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块;输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块;以及对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |