发明名称 用于等离子体诊断的Langmuir多探针控制电路
摘要 本发明公开了一种用于等离子体诊断的Langmuir多探针控制电路,属于等离子体诊断技术领域。控制电路整体位于等离子体装置之外,包括三个Langmuir单探针、交流锯齿波供电电压发生装置、直流供电电压发生装置、双刀双掷开关、反向开关、第一双刀三掷开关、第二双刀三掷开关、第一单刀单掷开关、第二单刀单掷开关和转换电阻,通过切换控制电路中的开关来进行Langmuir单探针、双探针和三探针不同诊断电路之间的选择,并提供清洗电路实现对探针的清洗操作。本发明利用了三种探针诊断方法在实验设备上的相同点,可以节约实验成本。结合三种诊断方法的不同点,通过转换控制电路切换不同方法,方便快捷,大大缩短实验周期;可以在实验过程中对探针进行清洗,使实验结果更加准确。
申请公布号 CN103140009A 申请公布日期 2013.06.05
申请号 CN201310038992.2 申请日期 2013.01.31
申请人 北京航空航天大学 发明人 汤海滨;张尊;杨渊
分类号 H05H1/00(2006.01)I 主分类号 H05H1/00(2006.01)I
代理机构 北京永创新实专利事务所 11121 代理人 姜荣丽
主权项 用于等离子体诊断的Langmuir多探针控制电路,其特征在于:所述的控制电路整体位于等离子体装置之外,通过切换控制电路中的开关来进行Langmuir单探针、双探针和三探针不同诊断电路之间的选择,并提供清洗电路实现对探针的清洗操作。
地址 100191 北京市海淀区学院路37号