发明名称 |
一种具有通孔的半导体结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种具有通孔的半导体结构及其制造方法,半导体结构包括衬底、多个环形通孔和多个实心通孔,环形通孔和实心通孔嵌于衬底中;实心通孔是金属填充的通孔;环形通孔是实心介质塞和环绕实心介质塞的金属环填充的通孔。其制造方法为:1)在衬底的第一表面上刻蚀出多个深孔;2)形成金属层;3)在衬底第一表面上粘附干膜,图形化所述干膜,使干膜在一部分深孔上形成开口;4)向干膜上有开口的的深孔填充金属,去掉所述干膜;5)向剩余深孔中填充介质,形成实心介质塞;6)减薄所述衬底的第二表面。本发明的半导体结构的实心通孔可以用于叠层芯片散热,改善电源完整性;环形通孔则可以改善通孔结构的应力,以及翘曲变形等问题。 |
申请公布号 |
CN102214624B |
申请公布日期 |
2013.05.29 |
申请号 |
CN201110128047.2 |
申请日期 |
2011.05.17 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
孙新;马盛林;朱韫晖;金玉丰;缪旻;陈兢 |
分类号 |
H01L23/48(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/48(2006.01)I |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 |
代理人 |
余长江 |
主权项 |
一种具有硅通孔的半导体结构的制造方法,该半导体结构包括衬底、多个环形通孔和多个实心通孔,其中:所述衬底具有相对的第一表面和第二表面;所述环形通孔和实心通孔嵌于所述衬底中,并沿垂直于所述第一表面和第二表面的方向贯穿所述衬底;所述实心通孔,是由金属填充的通孔;所述环形通孔,是由实心介质塞和环绕实心介质塞的金属环填充的通孔;该方法包括以下步骤:1)在所述衬底的第一表面上刻蚀出多个深孔;2)在所述衬底的第一表面和所述深孔中形成金属层;3)在所述衬底第一表面上粘附一干膜层,图形化所述干膜层,使干膜层在一部分深孔上形成开口;4)向干膜层上有开口的的深孔填充金属,形成实心金属塞,去掉所述干膜;5)向剩余深孔中填充介质,形成实心介质塞;6)减薄所述衬底的第二表面,露出深孔的底部。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |