发明名称 一种具有通孔的半导体结构及其制造方法
摘要 本发明公开了一种具有通孔的半导体结构及其制造方法,半导体结构包括衬底、多个环形通孔和多个实心通孔,环形通孔和实心通孔嵌于衬底中;实心通孔是金属填充的通孔;环形通孔是实心介质塞和环绕实心介质塞的金属环填充的通孔。其制造方法为:1)在衬底的第一表面上刻蚀出多个深孔;2)形成金属层;3)在衬底第一表面上粘附干膜,图形化所述干膜,使干膜在一部分深孔上形成开口;4)向干膜上有开口的的深孔填充金属,去掉所述干膜;5)向剩余深孔中填充介质,形成实心介质塞;6)减薄所述衬底的第二表面。本发明的半导体结构的实心通孔可以用于叠层芯片散热,改善电源完整性;环形通孔则可以改善通孔结构的应力,以及翘曲变形等问题。
申请公布号 CN102214624B 申请公布日期 2013.05.29
申请号 CN201110128047.2 申请日期 2011.05.17
申请人 北京大学 发明人 孙新;马盛林;朱韫晖;金玉丰;缪旻;陈兢
分类号 H01L23/48(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/48(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人 余长江
主权项 一种具有硅通孔的半导体结构的制造方法,该半导体结构包括衬底、多个环形通孔和多个实心通孔,其中:所述衬底具有相对的第一表面和第二表面;所述环形通孔和实心通孔嵌于所述衬底中,并沿垂直于所述第一表面和第二表面的方向贯穿所述衬底;所述实心通孔,是由金属填充的通孔;所述环形通孔,是由实心介质塞和环绕实心介质塞的金属环填充的通孔;该方法包括以下步骤:1)在所述衬底的第一表面上刻蚀出多个深孔;2)在所述衬底的第一表面和所述深孔中形成金属层;3)在所述衬底第一表面上粘附一干膜层,图形化所述干膜层,使干膜层在一部分深孔上形成开口;4)向干膜层上有开口的的深孔填充金属,形成实心金属塞,去掉所述干膜;5)向剩余深孔中填充介质,形成实心介质塞;6)减薄所述衬底的第二表面,露出深孔的底部。
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