发明名称 X-RAY INSPECTION METHOD AND X-RAY INSPECTION APPARATUS
摘要
申请公布号 EP2378279(A4) 申请公布日期 2013.05.29
申请号 EP20090834831 申请日期 2009.12.21
申请人 OMRON CORPORATION 发明人 MASUDA, MASAYUKI;SUGITA, SHINJI;KATO, NORIYUKI;MATSUNAMI, TSUYOSHI
分类号 G01N23/04 主分类号 G01N23/04
代理机构 代理人
主权项
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