发明名称 Method of forming fine patterns of semiconductor device
摘要 <p>반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법을 개시한다. 본 발명에 따른 반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법은 기판 상에 스페이서 패턴 및 스페이서 패턴의 양측면과 각각 접하며 스페이서 패턴과 동일 레벨을 갖는 절연층 패턴을 형성하는 단계, 절연층 패턴의 일부분을 제거하여 스페이서 패턴의 양측면을 노출시키는 한 쌍의 리세스를 형성하는 단계 및 리세스에 도전 물질을 채우는 단계를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101269054(B1) 申请公布日期 2013.05.29
申请号 KR20070098406 申请日期 2007.09.28
申请人 发明人
分类号 H01L21/027;H01L21/32 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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