发明名称 OPTICAL MESUREMENT APPARATUS
摘要 <p>본 발명은 측정시편이 고정되는 지지체, 상기 측정시편 상에 제1 광을 조사하는 제1 조사기, 상기 제1 광과 파장이 다른 제2 광을 상기 측정시편 상에 조사하는 제2 조사기 및 상기 제1 광의 반사광과 상기 제2 광의 반사광을 수광하여, 상기 측정시편에 대한 정보를 측정하는 검출기를 포함하는 광학 측정장치를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101268300(B1) 申请公布日期 2013.05.28
申请号 KR20110033453 申请日期 2011.04.11
申请人 发明人
分类号 G01N21/63;G01B11/06;G01N21/55;H01L21/66 主分类号 G01N21/63
代理机构 代理人
主权项
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