| 摘要 |
<p>본 발명은 LED 칩 검사 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LED 칩의 하측에 전극이 배치된 구조의 LED 칩에 전원을 인가하여 LED 칩을 검사할 수 있는 LED 칩 검사 장치에 관한 것이다. 본 발명은, 전극이 후면에 배치된 구조의 LED 칩에 대한 검사를 효과적으로 수행할 수 있는 LED 칩 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명에 의한 LED 칩 검사 장치는, 전극이 후면에 배치된 구조의 LED 칩에 대한 검사를 안정적이고 효과적으로 수행할 수 있는 LED 칩 검사 장치를 제공하는 효과가 있다.</p> |
