发明名称 ATR探针
摘要 ATR探针包括:整体的ATR体(2),其具有可被施加介质的表面区段(24);发射光导组件(1),用于将非准直的光入射到ATR体(2)内;接收光导组件(3),用于接收通过ATR体后的入射光,其中,光通过ATR体包括在ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射;其特征在于,用于接收从ATR体出来的光的接收光导组件的面积大于用于将光入射到ATR体内的发射光导组件的面积。ATR体(2)最好包括至少一个具有锥形或截锥形表面(24)的区段,且截锥形的表面至少可以部分地被施加介质。
申请公布号 CN101889195B 申请公布日期 2013.05.22
申请号 CN200880119157.9 申请日期 2008.12.02
申请人 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 发明人 哈孔·米克尔森;安德烈亚斯·米勒;帕特里克·亨齐
分类号 G01N21/55(2006.01)I 主分类号 G01N21/55(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 邹璐;樊卫民
主权项 ATR探针,用于检测介质的光学特性,所述ATR探针包括:整体的ATR体(2),其具有至少一个能够被施加介质的表面区段(24);发射光导组件(1),用于将非准直的光入射到所述ATR体(2)内;接收光导组件(3),用于接收通过所述ATR体后的入射光,其中,光通过所述ATR体的过程包括在所述ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射,其中,用于接收从所述ATR体出来的光的所述接收光导组件的有效面积以系数F大于用于将光入射到所述ATR体内的所述发射光导组件的有效面积以使得在探测器上达到尽可能高的光效率并因此产生尽可能高的信号,其中,F至少为4/3,以及其中,所述发射光导组件包括至少两个发射光导,且所述接收光导组件包括至少三个接收光导,其中,所述ATR体(2)包括至少一个具有锥形或截锥形的表面(24)的区段,且所述截锥形的表面能够至少部分地被施加介质。
地址 德国盖林根