| 发明名称 | 半导体集成电路 | ||
| 摘要 | 一种半导体集成电路，其内置处理装置(21)变为被动模式并停止或延迟运行，所述半导体集成电路具有：边缘检测单元(23)，其用于进行由外部所供给的中断信号的边缘检测，并生成边缘检测信号；以及，数据保持单元(22)，其用于根据所述边缘检测信号的供给来保持由外部所供给的数据。其中，所述处理装置(21)根据所述中断信号由被动模式变为主动模式之后，将所述数据保持单元(22)所保持的数据读入所述处理装置(21)。 | ||
| 申请公布号 | CN102144288B | 申请公布日期 | 2013.05.22 |
| 申请号 | CN200980134280.2 | 申请日期 | 2009.08.26 |
| 申请人 | 三美电机株式会社 | 发明人 | 阿部真喜男 |
| 分类号 | H01L21/822(2006.01)I;H01L27/04(2006.01)I;H01M10/48(2006.01)I;H02J7/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/822(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;马建军 |
| 主权项 | 一种半导体集成电路，其内置中央处理装置变为被动模式并停止或延迟运行，所述半导体集成电路具有：边缘检测单元，其用于进行由外部所供给的中断信号的边缘检测，并生成边缘检测信号；以及数据保持单元，其用于根据所述边缘检测信号的供给来保持由外部所供给的数据，其中，所述中央处理装置根据所述中断信号由被动模式变为主动模式之后，将所述数据保持单元所保持的数据读入所述中央处理装置。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||