发明名称 |
一种用于桥式元器件极性的多头测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种用于桥式元器件极性的多头测试装置,属于桥式元器件的正负极性测试装置领域;一种用于桥式元器件极性的多头测试装置,其特征在于,包括:一安装底板,所示安装底板上设置有若干个安装槽,所示安装槽设置有下开口;设置在每一个安装槽上的测试单元,所示相邻两个测试单元的距离间隔相同,所述测试单元的测试针通过所述安装槽的下开口向下伸出;所述安装底板的侧面还设置有供所述测试单元的指示灯伸出的通孔;由于采用了上述的技术方案,本实用新型的有益效果在于:本实用新型结构简单,多个测试单元可以一次性检测多个桥式元器件的正负极性,大大地提高了工作效率。 |
申请公布号 |
CN202948096U |
申请公布日期 |
2013.05.22 |
申请号 |
CN201220601708.9 |
申请日期 |
2012.11.15 |
申请人 |
上海昌福半导体有限公司 |
发明人 |
许彩云;翟宝明;周士俊 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海天翔知识产权代理有限公司 31224 |
代理人 |
吕伴 |
主权项 |
一种用于桥式元器件极性的多头测试装置,其特征在于,包括:一安装底板,所述安装底板上设置有若干个安装槽,所述安装槽设置有下开口;设置在每一个安装槽上的测试单元,所述相邻两个测试单元的距离间隔相同,所述测试单元的测试针通过所述安装槽的下开口向下伸出。 |
地址 |
201302 上海市浦东新区老港镇工业园区内拱极东路18号 |