发明名称 |
利用单个发光粒子检测的光分析方法 |
摘要 |
提供如下一种方法:在使用了共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法中,避免由于多个发光粒子暂时包含在光检测区域内而发光粒子的检测个数的精度恶化。在本发明的光分析技术中,在一边通过变更共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统的光路使光检测区域的位置在样本溶液内移动一边在测量光的强度而生成的光强度数据中,在以选择性地将具有超过阈值的强度的信号检测为表示发光粒子的光的信号的方式个别检测表示发光粒子的光的信号时,设定阈值使得选择性地检测表示来自包含在光检测区域内的比该光检测区域狭小的区域中的发光粒子的光的信号。 |
申请公布号 |
CN103119421A |
申请公布日期 |
2013.05.22 |
申请号 |
CN201180045547.8 |
申请日期 |
2011.09.16 |
申请人 |
奥林巴斯株式会社 |
发明人 |
田边哲也 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种光分析方法,其使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的光,其特征在于,包括如下步骤:通过变更上述光学系统的光路使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内移动;一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动一边测量来自上述光检测区域的光的强度,来生成光强度数据;在上述光强度数据上个别检测表示发光粒子的光的信号,其中,在上述个别检测表示发光粒子的光的信号的步骤中,选择性地检测具有超过阈值的强度的信号作为上述表示发光粒子的光的信号,设定上述阈值使得选择性地检测表示来自包含在上述光检测区域内的比该光检测区域狭小的区域中的发光粒子的光的信号。 |
地址 |
日本东京都 |