发明名称 | 用于超高灵敏探测的微纳悬臂梁结构制作方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种用于超高灵敏探测的微纳悬臂梁结构制作方法,包括下列步骤:1)对晶片进行光刻和刻蚀,制作出悬臂梁;2)通过光刻和刻蚀在晶片正面制备氧化硅掩膜;3)对晶片背面进行光刻和刻蚀,制作出背面沟槽,所述背面沟槽位于悬臂梁的正下方;4)利用步骤2)制备的掩膜,从晶片正面利用各向异性干法刻蚀刻穿硅晶片;5)利用步骤2)制备的掩膜,从正面利用各向同性干法刻蚀悬臂梁下方的硅,并在缓冲氢氟酸中去除氧化硅以释放悬臂梁。本发明各步骤采用的都是通常的微纳机电系统的加工方法,可靠性高,成品率高、加工精度高、能够精确制备各种形状和尺寸的悬臂梁结构,并且可适用于各种不同取向的晶片,易于产业化。 | ||
申请公布号 | CN102139855B | 申请公布日期 | 2013.05.22 |
申请号 | CN201010106789.0 | 申请日期 | 2010.02.03 |
申请人 | 中国科学院物理研究所 | 发明人 | 曹立新;李位勇;韩烨;许波;赵柏儒 |
分类号 | B81C1/00(2006.01)I | 主分类号 | B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人 | 王勇 |
主权项 | 一种用于超高灵敏探测的微纳悬臂梁结构制作方法,其特征在于,包括下列步骤:1)对晶片进行光刻和刻蚀,制作出悬臂梁;所述晶片包括硅晶片或含氧化硅中间层和单晶硅器件层的晶片;2)通过光刻和刻蚀在晶片正面制备氧化硅掩膜;3)对晶片背面进行光刻和刻蚀,制作出背面沟槽,所述背面沟槽位于悬臂梁的正下方;4)利用步骤2)所制备的氧化硅掩膜,从晶片正面利用各向异性干法刻蚀刻穿硅晶片;5)利用步骤2)所制备的氧化硅掩膜,从正面利用各向同性干法刻蚀悬臂梁下方的硅,去除掩膜,释放悬臂梁。 | ||
地址 | 100190 北京市海淀区中关村南三街8号 |