发明名称 被测试元件、测试装置及测试方法
摘要 一种测试装置,对被测试元件进行测试,被测试元件包括:被测试电路;以及切换部,该测试装置包括:测定部,将中继部控制为连接状态,经由两个外部端子来对中继部的传递特性进行测定,该中继部将连接着上述测试装置的两个外部端子之间予以连接或切断,使连接状态的传递特性成为外部端子与被测试电路的内部端子的各个之间的传递特性的计算基准;以及补偿部,基于所测定的中继部的传递特性,对应当经由外部端子及切换部而供给至被测试电路的信号进行补偿,或对经由切换部及外部端子而自被测试电路取得的信号进行补偿。
申请公布号 TWI396855 申请公布日期 2013.05.21
申请号 TW098133988 申请日期 2009.10.07
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 仓持泰秀;川端雅之
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本