СПОСОБ ОЦЕНКИ РАЗМЕРА ДЕФЕКТОВ В НАПРАВЛЕНИИ ПРОСВЕЧИВАНИЯ

摘要

Способ оценки размера дефектов в направлении просвечивания, заключающийся в фотометрическом сравнении оптической плотности изображений реальных и эталонных дефектов, отличающийся тем, что учитывают различие в ширине b (диаметре ⌀), длине l и глубине залегания r сравниваемых реальных дефектов (р.д.) и эталонных дефектов (эт.д.), для чего используют экспериментально полученные для набора толщин d металла, просвечиваемых источниками и энергией излучения, соответствующими используемым при радиографировании данных контролируемых изделий, зависимости величины отношения контраста изображения дефекта (ΔD) к коэффициенту контрастности пленки (γ_D)-ΔD/γ_D эталонных дефектов - канавок длиной и отверстий диаметром от их поперечного размера b(⌀)^эт.д., представляемые в графическом виде k_b(p)=(ΔD/γ_D)_(b,⌀)/(ΔD/γ_D)_(b,⌀)≥10=f(b,⌀) для расположения дефектов со стороны источника излучения и зависимостей отношения «источник/пленка» значений ΔD/γ_D идентичных эталонных дефектов от b(⌀)^эт.д. при расположении пленки вплотную к поверхности изделия, где ΔD=(D_д-D_ф) - контраст изображения дефекта, D_д - оптическая плотность изображения дефекта, D_ф - оптическая плотность фона снимка вблизи изображения дефекта, γ_D - коэффициент контрастности пленки при D=D_ф, при этом замеряют по снимку ширину (диаметр) b(⌀)^р.д. и длину l^р.д. выявленных реальных дефектов, затем проводят при различии ширины (диаметра) b(⌀) и/или длины l эталонных и реальных дефектов перерасчет замеренной величины (ΔD/γ_D)^эт.д. на величину , соответствующую значениям b(⌀)^эт.д.=b(⌀)^р.д., l^эт.д.=l^р.д., причем для используемых при просвечивании изделия образцов-имитаторов с канавками l^эт.д.≥10 мм и отверстиями, устанавливаемых со стороны источника излучения, и сравнении протяженных реальных дефектов с канавками, а компактных - с отверстиями для случая компактных l≈b и протяженных длиной l, свыше которой величина ΔD/γ_D уже не зависит от значения длины дефекта - l≥4b при b<1 мм и l≥3b при b≥1 мм или l≥10 мм реальных дефектов при перерасчете (ΔD/γ_D)^эт.д. используют непосредственно графики для соответственно отверстий и канавок , при этом

,

для случая удлиненных реальных дефектов b^р.д.р.д.<3-4b^р.д. (10 мм) величину определяют интерполированием по l^р.д. значений при b(⌀)=b(⌀)^эт.д.=b^р.д. в диапазоне значений (l^р.д.=b^р.д.)^______(l^р.д=3-4 b^р.д. или 10 мм), после чего в случае залегания реальных дефектов на относительно малом удалении от пленки r^р.д.<30%d или r^р.д.<20 мм, соответствующем их расположению в зоне практически заметного усиления рассеянным излучением контрастов изображений дефектов, что фиксируют по известному или предварительно определяемому значению r^р.д., замеренное значение (ΔD/γ_D)^р.д. заменяют расчетным , где при r=r^р.д.=0 коэффициент k_r(p) определяют для компактных реальных дефектов l^р.д.≈b^р.д. и протяженных реальных дефектов l^р.д.≥10 мм непосредственно по соответствующим графикам или при ⌀=⌀^р.д. или b=b ^р.д., при длине l^р.д.<10 мм значение k_r(p) определяют интерполированием по l значений при (b, ⌀)=(b, ⌀)^р.д. на графиках в диапазоне l=l^р.д.=b^р.д.______l=10 мм, при залегании реальных дефектов в зоне усиления контрастов при 0р.д.<30%d или 20 мм значение k_r(p) определяют интерполированием по r выше указанных значений и k_r(p)=1 в диапазоне значения r от r=0 до r=30%d или 20 мм, затем оценивают размер Δd^р.д. по соотношению значения реального дефекта и значения эталонного дефекта заданного размера Δd^эт.д., при этом в случае реальных дефектов с заполнением (шлаковые включения) значение , соответствующее пустотелому дефекту, умножают на коэффициент k_з=µ/(µ-µ_д)≅ρ/(ρ-ρ_д), где µ, µ_д; ρ, ρ_д - соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта.