| 摘要 |
<p>본 개시내용은 외부 인터페이스들의 기능성을 검증하기 위한 자체 테스트 특징들을 갖는 집적 회로를 설명한다. 예시적인 외부 인터페이스들은 메모리 인터페이스들 및 주변 컴포넌트 상호접속(peripheral component interconnect, PCI), 향상된 고성능 버스(advanced high-performance bus, AHB), 향상된 익스텐서블 인터페이스(advance extensible interface, AXI) 버스, 및 예를들어 200㎒ 이상의 고 주파수에서 동작하는 다른 외부 인터페이스들과 같은 버스 인터페이스들이 포함된다. 테스트 로직은 집적 회로 상에 내장될 수 있으며 외부 테스트 장비로부터 전력과 비테스트 신호들을 수신하면서 외부 인터페이스들의 기능성을 검증하도록 구성될 수 있다. 따라서, 외부 테스트 장비는 집적 회로에 고 주파수 테스트 신호들을 제공하지 않을 수 있다. 그러나, 외부 테스트 장비는 집적 회로의 핀 인터페이스의 기능성을 독립적으로 검증할 수 있다. 그 결과, 집적 회로는 외부 인터페이스들의 타이밍과 기능성을 검증하는데 요구되는 비용과 시간을 감소시킬 수 있다.</p> |
