Verfahren zur Korrektur von Messwerten eines Sensorelements

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur eines Messwertes eines Sensorelements, wobei das Sensorelement während wiederholt durchgeführter Messperioden zur Durchführung unterschiedlicher Messungen und zur Einstellung unterschiedlicher Betriebszustände durch eine Schaltungsanordnung in aufeinander folgenden Schaltpositionen in einer vorgegebenen Reihenfolge periodisch wechselnd elektrisch beschaltet wird, wobei zumindest eine Messung zur Bestimmung des Messwertes innerhalb einer Messperiode an vorgegebenen Schaltpositionen wiederholt durchgeführt wird und dadurch Einzelmesswerte an den vorgegebenen Schaltpositionen bestimmt werden und wobei der Messwert aus den Einzelmesswerten bestimmt wird. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass die Einzelmesswerte in Abhängigkeit von der jeweiligen Schaltposition korrigiert werden. Da die Umschaltung zwischen den verschiedenen Schaltzuständen periodisch erfolgt, ist auch die Beeinflussung der Messung periodisch und damit in gewisser Weise systematisch und deterministisch. Durch die Schaltposition innerhalb der Messperiode ist der der Einzelmessung vorangegangene Betriebszustand des Sensorelements und somit die Beeinflussung des Einzelmesswerts durch die vorangegangene Beschaltung bekannt. Entsprechend können die Einzelmesswerte korrigiert werden. Dies erfolgt ohne Dynamikverluste, wie sie bei herkömmlichen Filtern meist auftreten. Durch die Korrektur der Einzelmesswerte ist auch der aus den Einzelmesswerten bestimmte Messwert korrigiert.