发明名称 形成光掩膜版的方法及光掩膜版
摘要 一种形成光掩膜版的方法及光掩膜版。所述方法包括:a)提供静态随机存取记忆器有源区的设计图形,所述设计图形包括多个交错排列的单元,所述单元包括位于两端的头部和连接在所述头部之间的颈部;b)在相邻的所述单元的内侧设置矩形缺口,以形成光掩膜版图形,其中,所述矩形缺口位于所述颈部的端部;以及c)形成具有所述光掩膜版图形的光掩膜版。本发明的方法通过在静态随机存取记忆器有源区图形的相邻单元的内侧的、头部的下方设置矩形缺口可以增大随后以该掩膜版图形进行光刻工艺在晶片上获得的光刻图形在该区域内头对头之间的间距,因此可以有效地抑制连桥现象,提高良品率。
申请公布号 CN103105727A 申请公布日期 2013.05.15
申请号 CN201110360446.1 申请日期 2011.11.15
申请人 无锡华润上华科技有限公司 发明人 陈洁;王谨恒
分类号 G03F1/36(2012.01)I 主分类号 G03F1/36(2012.01)I
代理机构 北京市磐华律师事务所 11336 代理人 徐丁峰;汪洋
主权项 一种形成光掩膜版的方法,其特征在于,所述方法包括:a)提供静态随机存取记忆器有源区的设计图形,所述设计图形包括多个交错排列的单元,所述单元包括位于两端的头部和连接在所述头部之间的颈部;b)在相邻的所述单元的内侧设置矩形缺口,以形成光掩膜版图形,其中,所述矩形缺口位于所述颈部的端部;以及c)形成具有所述光掩膜版图形的光掩膜版。
地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新洲路8号