发明名称 一种氮化镓基半导体发光器件的制造方法
摘要 本发明公开了一种氮化镓基半导体发光器件的制造方法。本发明通过变更不同的蒸镀条件得到ITO层的粗化,破坏了光子在经过ITO与空气界面时发生的发射现象,增加了光子逃出器件表面的几率,提高了发光效率。另一方面,本发明直接在蒸镀ITO层的过程中控制蒸镀条件,形成粗化的ITO层,无需另外进行粗化的步骤,制作工艺与常规工艺相差无几,过程极简单、易于控制,成本低,便于产业化生产。
申请公布号 CN102214745B 申请公布日期 2013.05.15
申请号 CN201110156443.6 申请日期 2011.06.13
申请人 厦门市三安光电科技有限公司 发明人 廖齐华;许亚红;李水清;林雪娇;黄慧君;卢利香
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/42(2010.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/24(2006.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.一种氮化镓基半导体发光器件的制造方法,包含如下步骤:(1)在半导体衬底上依次生长GaN缓冲层、不掺杂GaN层、N-GaN层、多量子阱层、P-GaN层;(2)采用电子束蒸镀法在P-GaN层上蒸镀一层厚度为100~500Å的粗糙ITO层,提高蒸镀温度或者降低蒸镀率,在粗糙ITO层表面上继续蒸镀厚度为1400~3000Å的结晶度优于所述粗糙ITO层的ITO层,形成表面具有突起的ITO层。
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