发明名称 |
一种基于GaN-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>核壳结构纳米线半导体气敏材料 |
摘要 |
一种基于GaN-Ga2O3核壳结构纳米线半导体气敏材料,属于电子气敏器件技术领域。其特征是:将直径为50-500 nm的GaN纳米线的表面层高温氧化为一层厚度为5-20nm的Ga2O3,得到具有核壳结构GaN-Ga2O3的纳米线半导体气敏材料,该半导体气敏材料可以用于检测O2,H2,H2S,氮氧化物,各种碳氢化合物气体以及氨气等神经元有害气体。本发明的效果和益处是:载体核纳米线尺寸易于制备,而外层氧化获得的Ga2O3敏感材料厚度为5-20nm,接近德拜耗尽层的尺寸,从而获得对气体响应的高灵敏度,解决了直接制备直径为5-20nm Ga2O3纳米线的技术问题,进一步降低制备费用,节省成本。 |
申请公布号 |
CN103105421A |
申请公布日期 |
2013.05.15 |
申请号 |
CN201310016593.6 |
申请日期 |
2013.01.16 |
申请人 |
大连理工大学 |
发明人 |
李晓干;刘丽鹏;黄辉;王兢;朱慧超;唐祯安;闫卫平 |
分类号 |
G01N27/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N27/04(2006.01)I |
代理机构 |
大连理工大学专利中心 21200 |
代理人 |
侯明远 |
主权项 |
一种基于GaN‑Ga2O3核壳结构纳米线半导体气敏材料,其特征是:将直径为50‑500 nm的GaN纳米线的表面层高温氧化为一层厚度为5‑20nm的Ga2O3,得到具有核壳结构GaN‑Ga2O3的纳米线半导体气敏材料。 |
地址 |
116024 辽宁省大连市凌工路2号 |