通过反射法检测电缺陷的方法和结构

摘要

本发明意图允许对金属结构（10）的网络中的电故障进行检测和定位，所述金属结构能够容纳电线缆并用作这些线缆的电回路。利用反射法的方法包括在耦接至结构（10）的线缆中注入探测信号并且分析所述缺陷反射的信号。然而返回信号中阻抗变化的背景噪声使得难以检测缺陷。为克服这一问题，本发明提出设置与每个结构（10）相距恒定距离的探测信号的载波导体元件。根据所应用的示例，绝缘导体元件（C）被布置在金属结构（10）内部并且结合在固定在所述结构（10）中的由塑料材料形成的纵向支撑件（11）的容纳表面（11a）的纵向槽（50）中。将从所述导体元件（C）的线路返回的反射信号与阈值比较，在大于所述阈值时检测到缺陷并通过拓扑对缺陷定位。可以应用于具有复合表层的飞行器的线槽。

主权项

一种用于通过反射法检测金属结构（10）中的不可触及电缺陷的方法，所述金属结构（10）能够成网络状地容纳电线缆（12）并用作所述线缆的电回路，其特征在于，所述方法包括：在绝缘导体元件（C，P）的第一端部处注入被调制的探测信号（S），所述元件被设置成大体沿着支撑件与每个结构（10）相距恒定的距离，并且在第二端部处连接至所述结构（10）；通过将从所述导体元件（C，P）的线路返回的反射信号（R）与阈值相比较来检测并分析所述反射信号（R），其中当所述反射信号（R）大于所述阈值时检测出（300a）缺陷并且通过拓扑校正定位（300b）所述缺陷。