发明名称 插入件、托盘及电子元件测试装置
摘要 插入件(710)具备:可在接近容纳于插入件的IC器件的上表面的闭位置和从容纳于插入件的IC器件的上表面退避的开位置之间移动的卡闩构件(731),和将卡闩构件(731)可旋转地支撑于插入件主体(720)的支撑构件(733),卡闩构件(731)至少在插入件(710)的平面视图上以支撑构件(733)为旋转中心旋转动作。
申请公布号 CN101849190B 申请公布日期 2013.05.15
申请号 CN200780101506.X 申请日期 2007.11.26
申请人 株式会社爱德万测试 发明人 筬部明浩
分类号 G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人 高占元
主权项 一种在电子元件测试装置内搬送的托盘上可微动地设置的、可容纳被测试电子元件的插入件,具备:可在接近容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面的闭位置和从容纳于所述插入件的所述被测试电子元件的上表面退避的开位置之间移动的卡闩构件,和将所述卡闩构件可旋转地支撑于插入件主体的支撑构件,向所述闭位置对所述卡闩构件施力的第1弹性体,可推压所述卡闩构件的后端地设置在所述插入件主体上的操纵器,以及向远离所述插入件主体方向对所述操纵器施力的第2弹性体;所述支撑构件以所述支撑构件的轴方向倾斜于所述被测电子元件的容纳方向的方式设置在所述插入件主体上,所述卡闩构件的旋转中心位于所述卡闩构件的顶端和后端之间,通过借助于所述操纵器推压所述卡闩构件的后端,使所述卡闩构件的顶端从所述闭位置向所述开位置旋转动作,所述操纵器的与所述卡闩的后端抵接的接触面是倾斜的,所述卡闩构件在倾斜于所述插入件主体的主要面的平面上以所述支撑构件为旋转中心旋转动作。
地址 日本东京都