发明名称 一种测量不确定度的分析方法
摘要 本发明公开了一种测量不确定度的分析方法。利用参考测量系测量各标准样件,获取测量结果X,利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量,获取测量结果Y;分别计算测量结果X和Y的方差V(X)和V(Y),并定义α=V(X)/V(Y);假设<img file="DDA00002582404000011.GIF" wi="39" he="46" />和<img file="DDA00002582404000012.GIF" wi="29" he="46" />是测量值X和Y的一个合理估计;并假设有关系<img file="DDA00002582404000013.GIF" wi="286" he="62" />存在;按照Mandel精度定义式计算求得<img file="DDA00002582404000014.GIF" wi="58" he="59" />计算定义的全局不确定度;再计算整体不确定度T,利用T<sup>2</sup>替换第5步公式α=V(X)/V(Y)中的V(Y),重新计算一个新的比例系数α<sup>1</sup>;将α<sup>1</sup>与α对比,如果满足迭代条件,则当前计算的T即为待分析系统的测量不确定度;否则继续迭代。该方法可以对测量系统的测量不确定度作更为合理的分析。
申请公布号 CN103106332A 申请公布日期 2013.05.15
申请号 CN201210544768.6 申请日期 2012.12.13
申请人 华中科技大学 发明人 刘世元;朱金龙;陈修国;张传维
分类号 G06F19/00(2006.01)I 主分类号 G06F19/00(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 曹葆青
主权项 1.一种测量不确定度的分析方法,该方法包括下述步骤: 第1步利用参考测量系测量各标准样件,获取测量结果X=(x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x <sub>n</sub>),测量分量x<sub>k</sub>表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果,n表示标准样件的个数; 第2步利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量,获取测量结果Y=(y<sub>1</sub>,y<sub>2</sub>,…,y<sub>n</sub>),每一个测量分量y<sub>k</sub>表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果; 第3步分别计算测量结果X=(x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>n</sub>)和Y=(y<sub>1</sub>,y<sub>2</sub>,…,y<sub>n</sub>)的方差V(X)和V(Y),并定义一个比例参数α=V(X)/V(Y); 第4步假设<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900011.GIF" wi="376" he="107" />和<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900012.GIF" wi="372" he="107" />是测量值X=(x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>n</sub>)和Y=(y<sub>1</sub>,y<sub>2</sub>,…,y<sub>n</sub>)的一个合理估计;并假设有关系<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900013.GIF" wi="306" he="97" />存在,其中<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900014.GIF" wi="56" he="75" />与<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900015.GIF" wi="52" he="85" />是线性拟合方程系数的一个近似估计;第5步按照Mandel精度<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900016.GIF" wi="776" he="140" />定义式计算求得<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900017.GIF" wi="774" he="188" />进而得到<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900018.GIF" wi="486" he="204" />第6步按照公式<img file="DEST_PATH_FDA00002888264900019.GIF" wi="1028" he="252" />计算本发明中定义的全局不确定度σ<sub>this</sub>;第7步按照定义式<img file="DEST_PATH_FDA000028882649000110.GIF" wi="358" he="106" />计算整体不确定度T,其中σ<sub>X</sub>为参考测量系的不确定度,定义为<img file="DEST_PATH_FDA000028882649000111.GIF" wi="348" he="106" />第8步将计算出来的T<sup>2</sup>替换第2步公式α=V(X)/V(Y)中的V(Y),重新 计算一个新的比例系数α<sup>1</sup>; 第9步将第8步中计算得到的新的比例系数α<sup>1</sup>与最开始计算的α做对比,比较二者之间的差值是否小于某一个预先设定的阈值δ,如果有|α<sup>1</sup>-α|<δ,则迭代计算终止,输出当前计算的T即为待分析系统的测量不确定度;如果|α<sup>1</sup>-α|>δ,则继续迭代计算第3步~第8步,直到|α<sup>1</sup>-α|<δ。 
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