发明名称 能将晶片维持于同一液面中进行蚀刻之蚀刻槽
摘要 本创作系一种能将晶片维持于同一液面中进行蚀刻之蚀刻槽,包括一槽体、二挡板及一输送装置,该槽体底部设有一入水口,使一蚀刻液能由该入水口注入至该槽体内之容置空间,且该槽体上之两对应位置分别开设有一晶片入口及一晶片出口;该等挡板系设于该槽体中,其顶端之水平高度系低于该晶片入口及晶片出口之水平高度,且该蚀刻液在通过该入水口后,系先注入于该等挡板间形成之一区隔空间;该输送装置系设于该槽体中对应于该晶片入口及晶片出口之位置,其底部系抵靠于该等挡板之顶缘,以在该输送装置之顶缘及该区隔空间之顶缘间形成一反应空间,使蚀刻液必须依序注满该区隔空间及该反应空间,始能经由该输送装置顶缘,溢出至其余之容置空间中。如此,在一晶片由该晶片入口被输送至该蚀刻槽内时,即能被该输送装置带动,而使其两对应侧面完全浸入至该反应空间内之蚀刻液中,以进行双面蚀刻反应。
申请公布号 TWM453234 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW101224061 申请日期 2012.12.12
申请人 豪勉科技股份有限公司 台北市大同区承德路1段70号3楼;威保通实业有限公司 桃园县桃园市国兴街35之4号 发明人 翁振国;黄敬文
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 严国杰 台北市大同区承德路1段70之1号6楼
主权项
地址 桃园县桃园市国兴街35之4号