发明名称 测试设备及其感测装置
摘要 一种测试设备及其感测装置。感测装置可用于量测一研磨头上之一鼓起薄膜上之一施压表面之压力分布。感测装置可包含一基板及一感测构件。感测构件可用于量测薄膜上之施压表面上之压力分布。感测构件可设置于基板上,且包含一外周缘,其中该外周缘靠近膜上之施压表面之边缘。
申请公布号 TWM452830 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW101212807 申请日期 2012.07.03
申请人 台湾伟德科技股份有限公司 新竹县竹北市嘉勤南路66号 发明人 韩嘉铭
分类号 B24B33/06 主分类号 B24B33/06
代理机构 代理人 冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 新竹县竹北市嘉勤南路66号