发明名称 半导体记忆体之电容下电极制造方法
摘要 一种半导体记忆体之电容下电极制造方法,包括下列步骤:提供一堆叠结构,该堆叠结构包含有一介电层、一第一氮化矽层及一硬质遮罩层,该第一氮化矽层位于该硬质遮罩层及介电层之间,该硬质遮罩层位于第一氮化矽层上;蚀刻局部之硬质遮罩层、第一氮化矽层及介电层,以形成多数个凹部;沉积一第二氮化矽层于该硬质遮罩层及凹部内;蚀刻局部之第二氮化矽层、硬质遮罩层及介电层,以形成多数个穿孔;于每一穿孔内形成一电容下电极,蚀刻局部之第一氮化矽层、第二氮化矽层、介电层及电容下电极,以形成一蚀刻区;以及由该蚀刻区蚀刻去除介电层,藉此每一电容下电极之周缘围绕贴附有该第二氮化矽层,用以增加每一电容下电极之支撑力,防止电容下电极崩塌或变形。
申请公布号 TWI396260 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW098135584 申请日期 2009.10.21
申请人 华亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡复兴三路667号 发明人 黄信斌;李宗翰;黄仲麟
分类号 H01L21/8242;H01L21/28 主分类号 H01L21/8242
代理机构 代理人 庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;王云平 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项
地址 桃园县龟山乡复兴三路667号