发明名称 |
堆叠式随机动态存取记忆体之低寄生电容位元线之制造方法 |
摘要 |
一种堆叠式随机动态存取记忆体之低寄生电容位元线之制造方法,包括以下步骤:提供半导体基底,该半导体基底具有氧化物、多数个字元线堆叠层、多数个位元线堆叠层及多数个多晶矽;对半导体基底上表面涂上多层阻挡覆盖层;去除该多层阻挡覆盖层,并进一步去除部份位于该些多晶矽上方之氧化物,以形成该些多晶矽外露之接触孔;沉积氧化层;对氧化层进行蚀刻,形成氧化层间隙壁;沉积多晶矽层;对多晶矽层进行黄光微影、蚀刻,剩下呈柱状的多晶矽层形成电容插塞;以及以另一氧化物来填满字元线堆叠层及电容插塞之间的空间。 |
申请公布号 |
TWI396261 |
申请公布日期 |
2013.05.11 |
申请号 |
TW098138235 |
申请日期 |
2009.11.11 |
申请人 |
华亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡复兴三路667号 |
发明人 |
王晓靁;廖志宏 |
分类号 |
H01L21/8242;H01L21/76 |
主分类号 |
H01L21/8242 |
代理机构 |
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代理人 |
庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;王云平 台北市大安区敦化南路2段71号18楼 |
主权项 |
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地址 |
桃园县龟山乡复兴三路667号 |