| 摘要 |
一种用于判定关联值(R(i,m))之方法予以描述，每一关联值表示一第一数目(I)个输入节点之一输入节点(i)与一第二数目(M)个测量节点之一测量节点(m)之一组合之一关联以用于一晶片上一故障之一检测，该方法包含下列步骤：在该第一数目(I)个输入节点处施加一第三数目(K)次测试，其中该第三数目(K)次测试之每一测试(k)定义用于每一输入节点(i)之一测试输入选择(U(k,i))；测量关于该第三多次(K)测试之每一测试(k)之在该第二数目(M)个测量节点之每一个之一信号以获得关于该第二数目(M)个测量节点之每一测量节点(m)之一第三数目(K)个测量值，其中每一测量值(Y(k,m))与其被测量的该测试(k)与其被测量处之该测量节点(m)相关联；判定该等关联值(R(i,m))，其中每一关联值基于关于该各个组合之输入节点(i)定义的该第三数目(K)个测试输入选择(U(k,i))及与该各个组合(i,m)之该测量节点(m)相关联之该第三数目(K)个测量值(Y(k,m))之间的一关联而计算。 |
