发明名称 形成半导体装置与光学装置之方法及其结构
摘要 本发明提供一种整合制程,其中在进行处理以在相同半导体上形成诸如一光侦测器之一光学装置及一电晶体的过程中,形成一第一半导体保护层(32)及一第二半导体保护层(44),以分别保护该第一(16)及第二(42)半导体材料。该第一半导体保护层在该第二半导体层形成过程中保护该半导体基板,且该第二半导体层在该第一半导体之随后处理过程中保护该第二半导体材料。在一实施例中,该第一半导体包含矽且该第二半导体材料包含锗。
申请公布号 TWI396277 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW095105079 申请日期 2006.02.15
申请人 飞思卡尔半导体公司 美国 发明人 罗伯E 琼斯
分类号 H01L27/14;H01L31/10;H01L21/8234 主分类号 H01L27/14
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国