发明名称 |
玻璃基板的曝光对位方法 |
摘要 |
本发明公开一种玻璃基板的曝光对位方法,包含:将一基准片进行一基准片掩模工艺,利用一曝光机及一第一层光掩模板进行曝光;计算所述基准片的一第一内、外标记及一第二内、外标记的位置,并储存计算后的一数据,以作为曝光的对位基准;及对一玻璃基板进行一玻璃基板掩模工艺,利用所述曝光机及一玻璃基板光掩模板进行曝光,在所述玻璃基板上投影出:至少两层曝光区;及至少一拼接区,所述拼接区是根据所述数据进行对位曝光。通过将所述基准片于曝光时所形成的第一内、外标记及第二内、外标记进行数据的计算及储存,使所述玻璃基板曝光的拼接区能以所述数据作为对位基准,可确保所述玻璃基板曝光的图形对位精度,进而可避免所述玻璃基板的曝光图形偏移。 |
申请公布号 |
CN103092005A |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201310021424.1 |
申请日期 |
2013.01.21 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
付延峰 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
刁文魁;唐秀萍 |
主权项 |
一种玻璃基板的曝光对位方法,其特征在于:所述玻璃基板的曝光对位方法包含︰(S1)将至少一基准片进行一基准片掩模工艺,利用一曝光机及一第一层光掩模板进行曝光,在所述基准片上投影出:一第一曝光区;一第二曝光区;及一模拟拼接区,连接于所述第一曝光区及第二曝光区之间,所述第一曝光区分别于两侧形成数个第一外标记及数个第一内标记,所述第一外标记位于所述第一曝光区外,所述第一内标记位于所述第二曝光区中,所述第二曝光区分别于两侧形成数个第二内标记及数个第二外标记,所述第二内标记位于所述第一曝光区中,所述第二外标记位于所述第二曝光区外;(S2)计算所述步骤(S1)中的第一内、外标记及第二内、外标记的位置,并储存计算后的一数据,以作为曝光的对位基准;及(S3)对一玻璃基板进行一玻璃基板掩模工艺,利用所述曝光机及一玻璃基板光掩模板进行曝光,在所述玻璃基板上投影出:至少两层曝光区;及至少一拼接区,连接于所述两曝光区之间,其中所述拼接区是根据步骤(S2)的所述数据进行对位曝光。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 |