| 发明名称 | 利用超声波来无损检测受检件的方法以及执行该方法的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种利用超声波来无损检测受检件(100)的方法，包括以下方法步骤：a.将定向超声波脉冲以入射角β射入受检件(100)之中，其中以电子方式调整入射角β；b.记录由入射到受检件(100)之中的超声波脉冲产生的回波信号；c.确定入射位置X0，在该入射位置处可以记录对应于受检件体积中的缺陷(102)的回波信号；d.确定缺陷(102)的ERS值在位置X0处变得最大的入射角β最大；e.将受检件(100)表面上的入射位置从X0变为X1，其中检测入射位置的变化；f.以电子方式调整入射角β，以使得缺陷(102)的ERS值在改变后的入射位置X1处最大。本发明还涉及一种用来执行该方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN102066921B | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
| 申请号 | CN200980120640.3 | 申请日期 | 2009.04.06 |
| 申请人 | 通用电气传感与检测科技有限公司 | 发明人 | Y·奥伯多弗;W-D·克莱纳特 |
| 分类号 | G01N29/26(2006.01)I;G01N29/06(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G01N29/30(2006.01)I | 主分类号 | G01N29/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 李玲 |
| 主权项 | 一种利用超声波来对受检件(100)进行无损检测的方法，包括以下方法步骤：a.将定向超声波脉冲以入射角β射入所述受检件(100)之中，其中以电子方式调整所述入射角β，b.记录由入射到所述受检件(100)之中的所述超声波脉冲产生的回波信号，c.确定入射位置X0，在该入射位置X0处能够记录对应于受检件体积中的缺陷(102)的回波信号，d.确定所述缺陷(102)的ERS值在所述位置X0处变得最大时的入射角β最大，e.将受检件(100)表面上的入射位置从X0变为X1，其中检测所述入射位置的变化，以及f.以电子方式调整入射角β，以使得所述缺陷(102)的所述ERS值在改变后的入射位置X1处最大。 | ||
| 地址 | 德国许尔特 | ||