发明名称 |
一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块 |
摘要 |
本实用新型公开了一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块,包括主控制器、配置存储器、多个诊断模块、继电器和探卡接口。其中,主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接配置存储器、多个诊断模块和探卡接口;配置存储器用于存储故障诊断的配置程序;探卡接口连接继电器。本故障诊断模块可以与各种VXI总线数字测试系统相互配合,自动完成集成电路生产测试过程中的故障诊断工作,故障定位快速准确,操作简单方便。 |
申请公布号 |
CN202929136U |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201220546058.2 |
申请日期 |
2012.10.23 |
申请人 |
北京自动测试技术研究所 |
发明人 |
李杰;冯建科;蒋常斌 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 |
代理人 |
陈曦;贾兴昌 |
主权项 |
一种用于VXI总线数字测试系统的故障诊断模块,其特征在于: 所述故障诊断模块包括主控制器、配置存储器、多个诊断模块、继电器和探卡接口;其中, 所述主控制器一方面连接集成电路测试仪,另一方面分别连接所述配置存储器、多个诊断模块和探卡接口; 所述探卡接口连接所述继电器。 |
地址 |
100088 北京市海淀区北三环中路31号 |