发明名称 电极结构、氮化镓基半导体器件及其制造方法
摘要 本发明提供了一种电极结构、包括该电极结构的GaN基半导体器件及其制造方法。该GaN基半导体器件可以包括:GaN基半导体层;以及在GaN基半导体层上的电极结构。该电极结构可以包括:包括导电材料的电极元件;以及在电极元件和GaN基半导体层之间的扩散层。该扩散层可以包括关于GaN基半导体层为n型掺杂剂的材料并且该扩散层接触GaN基半导体层。例如,扩散层可以包括从Ge、Si、Sn、Pb、GeSi及其组合中选出的至少一种。GaN基半导体层的接触扩散层的区域可以用所述n型掺杂剂掺杂。该GaN基半导体层可以包括例如GaN层和AlGaN层。GaN基半导体器件可以是高电子迁移率晶体管(HEMT)和/或可以是功率器件。
申请公布号 CN103094334A 申请公布日期 2013.05.08
申请号 CN201210215829.4 申请日期 2012.06.27
申请人 三星电子株式会社 发明人 李政烨;鲜于文旭;文彰烈;朴用永;梁佑荣;黄仁俊
分类号 H01L29/772(2006.01)I;H01L29/45(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I 主分类号 H01L29/772(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 王新华
主权项 一种GaN基半导体器件,包括:GaN基半导体层;以及电极结构,在所述GaN基半导体层上,该电极结构包括:电极元件,包括导电材料,和扩散层,在所述电极元件和所述GaN基半导体层之间,该扩散层包括关于所述GaN基半导体层为n型掺杂剂的材料,并且该扩散层接触所述GaN基半导体层,所述GaN基半导体层的接触所述扩散层的区域用所述n型掺杂剂掺杂。
地址 韩国京畿道