发明名称 一种定性定量分析SF<sub>6</sub>气体中痕量杂质的方法
摘要 本发明公开了一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法。其主要步骤包括:采样;利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析,检测器为四极杆质量检测器,色谱柱采用CP-Sil 5 CB毛细管柱。与现有技术相比,本发明检测组分种类全面,能够检测CF4、C2F6、CO2、C2F6S2、C4F10、C5F10、SO2F2、SF5OSO2F、SOF2、S2F10O、SO2、H2S等12种组分,并对上述化合物进行快速识别和准确定量分析。通过分析SF6气体中痕量杂质,能够控制充入电气设备中SF6气体品质,延长电气设备服役寿命。
申请公布号 CN103091440A 申请公布日期 2013.05.08
申请号 CN201310014608.5 申请日期 2013.01.16
申请人 海南电力技术研究院 发明人 陈林聪;裘吟君;陈晓琳;张薇;李欣然
分类号 G01N30/88(2006.01)I 主分类号 G01N30/88(2006.01)I
代理机构 海口翔翔专利事务有限公司 46001 代理人 刘清莲
主权项 一种定性定量分析SF6气体中痕量杂质的方法,其特征在于:包括以下步骤:1)采样;2)利用气相色谱—质谱联用仪对样品进行定性、定量分析,检测器为四极杆质量检测器,色谱柱采用CP‑Sil 5 CB毛细管柱。
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