发明名称 |
测试基座及测试设备 |
摘要 |
本实用新型提供一种测试基座及测试设备,所述测试基座包括基座本体、测试夹具及多个测试探针。所述测试夹具是可拆卸地设置于所述基座本体上,以固定待测物。所述多个测试探针设置于所述基座本体内,当进行所述待测物的测试时,所述测试探针是通过所述测试夹具的探针孔来与待测物的电路接点进行电性连接。所述测试基座可应用于测试设备中。本实用新型的测试夹具可以拆换,因此可改善所述测试基座的使用寿命及耐用度。 |
申请公布号 |
CN202929057U |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201220646031.0 |
申请日期 |
2012.11.29 |
申请人 |
苏州日月新半导体有限公司 |
发明人 |
金永斌;占津晶 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 |
代理人 |
翟羽 |
主权项 |
一种测试基座,其特征在于:所述测试基座包括:一基座本体;一测试夹具,可拆卸地设置于所述基座本体上,以固定一待测物,其中所述测试夹具设有多个探针孔;多个测试探针,设置于所述基座本体内,所述测试探针通过所述探针孔与所述待测物的电路接点进行电性连接。 |
地址 |
215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号 |