发明名称 光栅的制备方法
摘要 本发明提供一种光栅的制备方法,其包括以下步骤:提供一基底,在基底表面形成一图形化的掩模层;将该形成有掩模层的基底放入一反应性等离子体系统中,通入刻蚀气体对基底进行刻蚀,刻蚀过程分为三个阶段:第一刻蚀阶段,刻蚀气体的成分为四氟化碳和氩气,四氟化碳和氩气同时通入;第二刻蚀阶段,刻蚀气体的成分改变为四氟化碳、六氟化硫以及氩气,且四氟化碳、六氟化硫以及氩气同时通入,六氟化硫的体积流量大于四氟化碳的体积流量;第三刻蚀阶段,继续同时通入四氟化碳、六氟化硫以及氩气,其中四氟化碳的体积流量大于六氟化硫的体积流量;以及去除掩模层,得到一光栅。本发明制备得到高密度、高深宽比的亚波长衍射光栅。
申请公布号 CN103086607A 申请公布日期 2013.05.08
申请号 CN201110333556.9 申请日期 2011.10.28
申请人 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发明人 朱振东;李群庆;张立辉;陈墨;范守善
分类号 C03C15/00(2006.01)I 主分类号 C03C15/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种光栅的制备方法,其包括以下步骤:提供一基底,在基底表面形成一图形化的掩模层;将该形成有掩模层的基底放入一反应性等离子体系统中,通入刻蚀气体对基底进行刻蚀,刻蚀过程分为三个阶段:第一刻蚀阶段,刻蚀气体的成分为四氟化碳和氩气,四氟化碳和氩气同时通入,四氟化碳和氩气的总体积流量为40sccm至120sccm,四氟化碳的体积流量的范围为10sccm至100sccm,氩气的体积流量的范围为1sccm至30sccm;第二刻蚀阶段,刻蚀气体的成分改变为四氟化碳、六氟化硫以及氩气,且四氟化碳、六氟化硫以及氩气同时通入,其中,刻蚀气体的等离子体的总体积流量的范围为40sccm至120sccm,其中,六氟化硫的体积流量大于四氟化碳的体积流量;第三刻蚀阶段,继续同时通入四氟化碳、六氟化硫以及氩气,其中四氟化碳的体积流量大于六氟化硫的体积流量,四氟化碳的体积流量的范围为20sccm至80sccm,六氟化硫的体积流量的范围为5sccm至50sccm,氩气的体积流量为5sccm至40sccm;以及去除掩模层,得到一光栅。
地址 100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室