| 发明名称 | 用于校准具有CCD阵列的分光仪的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于对由CCD阵列（2）所构造的分光仪（1）进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录来自两个特殊试样（P1，P2）的至少两个光谱，其用作校准样本并且这样实施，使得其分别这样调谐在校准样本中的参考物质，使得对于校准样本中的一个给出待检查的光的靠近外部表面的射出，对此这样实施另一个校准样本，使得待检查的光从更深处、与此不同的深度中辐射出，其中，依据在此所记录的原始数据来生成描述在此出现的标准化效应的函数，并且其中，将该函数作为用于来自容积辐射体的测量的校正函数（K）存储在分光仪中。 | ||
| 申请公布号 | CN103097868A | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
| 申请号 | CN201180028425.8 | 申请日期 | 2011.04.11 |
| 申请人 | MBR光学系统两合公司 | 发明人 | H.琼曼;M.希特泽尔 |
| 分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/42(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 谢强 |
| 主权项 | 一种用于对由CCD阵列所构造的分光仪进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录第一校准光谱和第二校准光谱，其中，为了生成这些校准光谱而对参考结构进行照明，所述参考结构关于由其射出的光的出射深度明显不同。 | ||
| 地址 | 德国伍珀塔尔 | ||