发明名称 | 半导体器件 | ||
摘要 | 提供了一种半导体器件,该半导体器件包括:衬底;设置在所述衬底的上方的第一有源层;设置在所述第一有源层上的第二有源层,所述第二有源层具有比所述第一有源层高的带隙以使得在所述第一有源层和所述第二有源层之间产生二维电子气层,其中所述第二有源层包括形成在其内的第一凹进部和第二凹进部;分别设置在所述第一凹进部和所述第二凹进部中的源极接触和漏极接触;设置在所述第二有源层的上方的栅电极;以及设置在所述第二有源层的上方的终止层。 | ||
申请公布号 | CN103094336A | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
申请号 | CN201310004317.8 | 申请日期 | 2008.03.20 |
申请人 | 电力集成公司 | 发明人 | 迈克尔·墨菲;米兰·波普赫里斯蒂奇 |
分类号 | H01L29/778(2006.01)I | 主分类号 | H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人 | 郑建晖;杨勇 |
主权项 | 一种半导体器件,包括:衬底;设置在所述衬底的上方的第一有源层;设置在所述第一有源层上的第二有源层,所述第二有源层具有比所述第一有源层高的带隙以使得在所述第一有源层和所述第二有源层之间产生二维电子气层,其中所述第二有源层包括形成在其内的第一凹进部和第二凹进部;分别设置在所述第一凹进部和所述第二凹进部中的源极接触和漏极接触,其中所述第一凹进部和所述第二凹进部具有各自的侧表面和底表面,并且所述源极接触和所述漏极接触被设置在所述第一凹进部和所述第二凹进部中,接触所述第二有源层中的相应凹进部的侧表面和底表面,其中,以此方式使接触件凹进降低了所述第二有源层的表面的接触电阻和光滑度,从而增大了被沉积用于形成所述源极接触和所述漏极接触的金属对所述第二有源层的渗透性;设置在所述第二有源层的上方的栅电极;以及设置在所述第二有源层的上方的终止层,并且其中,所述源极接触和所述漏极接触延伸穿过所述终止层。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |