发明名称 |
测定四氟化硅气体中杂质碘含量的方法 |
摘要 |
本发明公开了测定四氟化硅气体中杂质碘含量的方法,包括以下步骤:第一步,配置100mLNaOH或KOH吸收液;第二步,连接好冷冻装置;第三步,用惰性气体置换整个管路中的空气,然后抽真空,反复5次;第四步,将经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后的SiF4气体引入冷冻装置,除去HI以及I2;第五步,将冷冻后的SiF4气体引入吸收瓶吸收,控制增重量m;第六步,用紫外分光光度法分析气体中的碘含量。本发明方法用于四氟化硅中杂质碘的分析,可以准确、迅速地测定碘杂质的含量,有利于高纯度四氟化硅的生产。适用于生产四氟化硅的企业。 |
申请公布号 |
CN103091271A |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201210493730.0 |
申请日期 |
2012.11.28 |
申请人 |
贵州瓮福蓝天氟化工股份有限公司;贵州大学 |
发明人 |
唐安江;刘松林;张妙鹤;汤正河;张瑞;韦德举;龚孝祥 |
分类号 |
G01N21/33(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/33(2006.01)I |
代理机构 |
贵阳中工知识产权代理事务所 52106 |
代理人 |
刘安宁 |
主权项 |
测定四氟化硅中的碘含量的方法,其特征包括如下步骤:第一步,配置100mL NaOH或KOH吸收液;第二步,连接好冷冻装置;第三步,用惰性气体置换整个管路中的空气,然后抽真空,反复5次;第四步,将经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后的SiF4气体引入冷冻装置,除去HI以及I2;第五步,将冷冻后的SiF4气体引入吸收瓶吸收,控制增重量m;第六步,用紫外分光光度法分析气体中的碘含量。 |
地址 |
550500 贵州省黔南布依族苗族自治州福泉市马场坪办事处迎宾路11号 |