发明名称 |
背照式的CMOS图像传感器及其制备方法 |
摘要 |
本发明揭示了一种背照式的CMOS图像传感器,包括:半导体基底,包括至少两个像素单元区域,所述半导体基底具有正面和与之相对的背面;所述半导体基底的正面形成有至少两个像素,每一所述像素单元区域内具有一个所述像素;所述半导体基底的背面形成有沟槽,所述沟槽位于相邻所述像素单元区域之间;所述半导体基底的背面形成有隔绝层,所述隔绝层与所述沟槽形成空气隙;所述隔绝层上依次形成有滤光片和微透镜。同时,本发明还提供一种背照式的CMOS图像传感器的制备方法,采用本发明的背照式的CMOS图像传感器,能够减少或避免光线进入相邻的像素单元区域,改善对相邻的像素单元区域造成光学串扰现象,提高背照式的CMOS图像传感器的成色质量。 |
申请公布号 |
CN103094298A |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201310060625.2 |
申请日期 |
2013.02.26 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
饶金华 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种背照式的CMOS图像传感器,包括:半导体基底,包括至少两个像素单元区域,所述半导体基底具有正面和与之相对的背面;所述半导体基底的正面形成有至少两个像素,每一所述像素单元区域内具有一个所述像素;所述半导体基底的背面形成有沟槽,所述沟槽位于相邻所述像素单元区域之间;所述半导体基底的背面形成有隔绝层,所述隔绝层与所述沟槽形成空气隙;所述隔绝层上依次形成有滤光片和微透镜。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号 |