发明名称 光学测量装置
摘要 一种光学测量装置,用以测量待测样本。光学测量装置包括扁平化面光源模块、第一偏振片、第二偏振片、液晶盒及图像感测器。扁平化面光源模块用以提供面光源。面光源用以发出检测光。第一偏振片配置于检测光的传递路径上。第二偏振片配置于检测光的传递路径上。第一偏振片配置于面光源与第二偏振片之间,且待测样本适于配置于第一偏振片与第二偏振片之间。液晶盒配置于检测光的传递路径上,且位于第一偏振片与第二偏振片之间。图像感测器配置于检测光的传递路径上,以感测检测光。第二偏振片配置于液晶盒与图像感测器之间。
申请公布号 CN103091014A 申请公布日期 2013.05.08
申请号 CN201210421089.X 申请日期 2012.10.29
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 温博浚;陈彦良
分类号 G01L1/25(2006.01)I 主分类号 G01L1/25(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 史新宏
主权项 一种光学测量装置,其特征在於,用以测量待测样本,该光学测量装置包括:扁平化面光源模块,用以提供面光源,其中该面光源用以发出检测光;第一偏振片,配置于该检测光的传递路径上;第二偏振片,配置于该检测光的传递路径上,其中该第一偏振片配置于该面光源与该第二偏振片之间,且该待测样本适于配置于该第一偏振片与该第二偏振片之间;液晶盒,配置于该检测光的传递路径上,且位于该第一偏振片与该第二偏振片之间;以及图像感测器,配置于该检测光的传递路径上,以感测该检测光,其中该第二偏振片配置于该液晶盒与该图像感测器之间。
地址 中国台湾新竹县