发明名称 |
基于输入微调的余数校验容错高通/带通滤波处理方法 |
摘要 |
本发明提出一种基于输入微调的余数校验容错高通/带通滤波处理方法,包括:将采集数据x分别传输给第一支路、第二支路和余数支路,其中,第一支路和第二支路为两个完全相同的高通/带通滤波器支路,余数支路为一个基于余数处理的高通/带通滤波器支路;对x进行取模处理;当取模结果为0时,将第一支路和第二支路及余数支路的输入数据加1,随后对微调加1后的新输入数据进行基于余数校验的容错滤波处理;或者当取模结果不为0时,直接对第一支路、第二支路以及余数支路的输入数据进行基于余数校验的容错滤波处理。本发明可避免由滤波器系数发生单粒子翻转所引起的故障漏检问题,具有操作简单,结果准确率高的优点。 |
申请公布号 |
CN103092729A |
申请公布日期 |
2013.05.08 |
申请号 |
CN201310035424.7 |
申请日期 |
2013.01.29 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
高镇;王京;赵明;潘文 |
分类号 |
G06F11/14(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种基于输入微调的余数校验容错高通/带通滤波处理方法,其特征在于,包括以下步骤:A:将采集数据x分别传输给第一支路、第二支路和余数支路,其中,所述第一支路和第二支路为两个完全相同的高通/带通滤波器支路,所述余数支路为一个基于余数处理的高通/带通滤波器支路;B:在所述余数支路中,对所述x进行取模处理(x)m,其中模数m为正整数,取模结果为xm;C:当所述xm=0时执行步骤C1,当所述xm≠0时执行步骤C2;C1:将所述第一支路和第二支路的输入数据加1,并将所述余数支路的取模结果加1,随后所述第一支路、第二支路以及余数支路对微调加1后的新输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理;C2:直接对所述第一支路、第二支路以及余数支路的输入数据进行一般的基于余数校验的容错滤波处理。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084-82信箱 |