DISPOSITIVO Y METODO PARA LA DETERMINACION DE CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE NANOCONTACTOS ENTRE UNA NANOESTRUCTURA LONGITUDINAL Y UNA PISTA DE METAL PARA SU CONEXIONADO
摘要
申请公布号
ES2381506(B1)
申请公布日期
2013.05.06
申请号
ES20090000370
申请日期
2009.02.10
申请人
CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC)
