发明名称 Massenspektrometer, welches Detektorenanordnungen umfasst
摘要 Es werden Massenspektrometer vorgeschlagen, die besonders nützlich für die Untersuchung von Ionenstrahlen über einen breiten Bereich von Ionenmassen sind, worin einzelne Strahlen von Ionen verschiedener Masse auf eine Schlitzanordnung in einer Schlitzanordnungsplatte (7) abgebildet werden, wobei der Abstand der Schlitze dem Abstand des Satzes von Ionenstrahlen (1 bis 6) entspricht, der aus dem magnetischen Auffächern eines gemischten Ionenstrahls aus einer Quelle resultiert. Einzelne Detektoren (8, 9, 10, 17, 18, 19), z. B. Faraday-Becher, sind jedem Schlitz zugeordnet. Gemäß der Erfindung ist eine Anzahl von elektrostatischen Analysatoren (14, 15, 16) zwischen einigen oder allen der Schlitze in der Schlitzanordnungsplatte (7) angeordnet, durch welche Ionen mit höherer Masse als der der hauptsächlichen Spezies in dem Ionenstrahl treten, um gestreute Ionen und Elektronen abzufangen und dementsprechend die Empfindlichkeit der Vorrichtung erheblich zu steigern.
申请公布号 DE102012110490(A1) 申请公布日期 2013.05.02
申请号 DE201210110490 申请日期 2012.11.02
申请人 NU INSTRUMENTS LTD. 发明人 FREEDMAN, PHILIP ANTHONY
分类号 H01J49/26 主分类号 H01J49/26
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利