发明名称 X光检测设备之支承装置
摘要 一种X光检测设备之支承装置,用以支撑一X光机且调整X光机之高度,支承装置包含一支撑机构、一固定机构以及一导引机构,支撑机构包括一包覆构件及一支撑构件,包覆构件具有一中空柱,支撑构件支撑X光机并且滑移地穿设于包覆构件之中空柱中,固定机构延伸自支撑构件,使支撑构件相对于包覆构件固定在一滑移位置,导引机构延伸自支撑构件,导引机构包含一滑移滚轮构件,滑移滚轮构件沿着支撑构件之滑移方向而相对于包覆构件滑移,藉此降低支撑构件与包覆构件之间的摩擦力,能较为滑顺地且省力地调整X光检测设备之高度。
申请公布号 TWM451946 申请公布日期 2013.05.01
申请号 TW101219784 申请日期 2012.10.12
申请人 普一股份有限公司 新北市新店区中正路550巷3号5楼 发明人 廖宜权
分类号 A61B6/00 主分类号 A61B6/00
代理机构 代理人 林志青 台北市信义区松隆路102号18楼之1
主权项
地址 新北市新店区中正路550巷3号5楼