发明名称 基板之氮化处理方法及绝缘膜之形成方法
摘要 揭示之基板之氮化处理方法,系在电浆处理装置之处理室内对基板表面之矽作用含氮之电浆而施予氮化处理者;使电浆产生区域之电浆电位(Vp)与上述基板中之浮动电位(Vf)间之电位差(Vp-Vf)、亦即上述基板附近之鞘电压(Vdc)控制成为3.5〔V〕以下,而进行上述含氮电浆之氮化处理。
申请公布号 TWI395267 申请公布日期 2013.05.01
申请号 TW095111591 申请日期 2006.03.31
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 本多稔;中西敏雄
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本