测试储存装置的方法及其系统

摘要

一种测试储存装置的方法，包含：(a)将一特定测试字串(pattern)写入一储存装置的一储存单位；(b)读取写入该储存单位的该特定测试字串；(c)判断所读取的该特定测试字串之一错误位元数；以及(d)若该错误位元数大于一错误位元临界值，则判定该储存单位损坏，其中该错误位元临界值系小于该特定测试字串相对应之一错误校正码之一可校正位元数。