发明名称 动态测试装置及方法
摘要 一种动态测试装置及方法。于一元件介面板(DIB)上设有容置装置(例如插槽)及控制器(例如微控制器)。容置装置系用以容置受测元件,而控制器则动态撷取受测元件的输出讯号,据以得到动态运动状态(例如加速度)。
申请公布号 TWI394949 申请公布日期 2013.05.01
申请号 TW098105503 申请日期 2009.02.20
申请人 京元电子股份有限公司 新竹市公道五路2段81号 发明人 倪建青;张雅婷;杨智杰
分类号 G01P21/00 主分类号 G01P21/00
代理机构 代理人 陈达仁 台北市中山区长春路156号5楼
主权项
地址 新竹市公道五路2段81号