发明名称 粒子线照射装置及粒子线治疗装置
摘要 本发明的目的系获得一种粒子线照射装置,排除扫掠电磁铁的磁滞的影响,并实现高精度的射束照射。;其具备:扫掠电磁铁3,扫掠藉由加速器52所加速的荷电粒子射束,并具有磁滞;扫掠电源4,系输出驱动扫掠电磁铁3的励磁电流;磁场感测器20,系测定藉由励磁电流驱动的扫掠电磁铁3的磁场;以及照射控制装置5,系依据藉由磁场感测器20所测定的测定磁场Bs及荷电粒子射束1b的目标照射位置Pi控制扫掠电源4。照射控制装置5系具有:逆映像手段22,系从荷电粒子射束1b的目标照射位置座标Pi运算目标磁场Bi;及控制器,生成给使目标磁场Bi与测定磁场Bs的磁场误差Be为预定的临限值以下的扫掠电源4的励磁电流的指令值Io,并将指令值Io输出至扫掠电源4。
申请公布号 TWI394598 申请公布日期 2013.05.01
申请号 TW099126438 申请日期 2010.08.09
申请人 三菱电机股份有限公司 日本 发明人 岩田高明
分类号 A61N5/10;G21K1/093;G21K5/00 主分类号 A61N5/10
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项
地址 日本