发明名称 温度量测系统及方法
摘要 在一组实施例中,可实施一电路以将成精确比率之电流传递至一位于远端之半导体装置,该半导体装置具有一随温度变化之大体上非线性输入输出特性且经受电磁干扰(EMI)之效应。该电路可经组态以藉由在该位于远端之半导体装置之两个端子中之每一端子处建立一相同阻抗而使用共同模式排斥,替代跨越该等端子耦接分流电容器,以在使用该位于远端之半导体装置执行温度量测的同时排斥EMI信号。此可促进在执行温度量测时保持快速取样时间,同时提供一用于处理可导致温度量测误差之EMI感应电流之更有效方法,藉此消除彼等误差。
申请公布号 TWI394939 申请公布日期 2013.05.01
申请号 TW095132630 申请日期 2006.09.01
申请人 标准微系统股份有限公司 美国 发明人 史考特C 马克洛德
分类号 G01K1/00 主分类号 G01K1/00
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国